石墨烯性能表征系統(tǒng)隨著工業(yè)的發(fā)展更具靈活性 
    石墨烯性能表征系統(tǒng)隨著納米技術(shù)的不斷發(fā)展，碳納米管和石墨烯的性能越來越受到科學(xué)家的關(guān)注。然而，對于碳納米管和石墨烯性能表征 一直是困擾碳納米管和石墨烯技術(shù)研究和應(yīng)該的主要障礙。目前，碳納米管和石墨烯測量方法是光譜測量技術(shù)。
    隨著納米技術(shù)的不斷發(fā)展，碳納米管和石墨烯的性能越來越受到科學(xué)家的關(guān)注。然而，對于碳納米管和石墨烯性能表征一直是困擾碳納米管 和石墨烯技術(shù)研究和應(yīng)該的主要障礙。目前，石墨烯性能表征系統(tǒng)和石墨烯測量方法是光譜測量技術(shù)。相對其他測量方法，石墨烯性能表征系統(tǒng) 較高靈敏度，即使碳納米管和石墨烯的含量很低也能測量。
    石墨烯性能表征系統(tǒng)較高測量精度，對碳納米管的分辨率很高，對待測樣品要求低，可直接分析含較多雜質(zhì)的樣品。隨著納米技術(shù)的不斷發(fā) 展，碳納米管和石墨烯的性能越來越受到科學(xué)家的關(guān)注。然而，對于石墨烯性能表征系統(tǒng)性能表征一直是困擾碳納米管和石墨烯技術(shù)研究和應(yīng)該 的主要障礙。目前，石墨烯性能表征系統(tǒng)烯測量方法是光譜測量技術(shù)。
    石墨烯性能表征系統(tǒng)相對其他測量方法，該技術(shù)較高靈敏度，即使碳納米管和石墨烯的含量很低也能測量，對待測樣品要求低，可直接 分析含較多雜質(zhì)的樣品。石墨烯性能表征系統(tǒng)測量設(shè)備相對簡單，準備待測樣品非常容易，數(shù)據(jù)處理簡單，測量結(jié)果無需考慮背景減除。
    對于碳納米管和石墨烯的表征，雖然石墨烯性能表征系統(tǒng)測量技術(shù)有很大的優(yōu)點，但是由于沒有一套系統(tǒng)是專門針對研究碳納米管和石墨烯 而設(shè)計的，所以測量過程還是有些問題，如獲取數(shù)據(jù)速度太慢，測量靈敏度不是很高，手工處理數(shù)據(jù)非常繁瑣且容易出錯等等。石墨烯性能表征系統(tǒng)高度集成化，體積小巧，操作簡單，使用方便，僅需要很少的樣品，*的測量靈敏度和測量速度，的操作界面，全自動測量和數(shù)據(jù)分 析，同時測量樣品近紅外波長的吸收和發(fā)射光譜。